测试设备及温度传感器的测试方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种测试设备及温度传感器的测试方法，该测试设备包括测试基板和控制单元；测试基板上设置有标准座以及多个测试座，标准座设置有标准测试电路，测试座设置有实际测试电路，控制单元分别与标准测试电路和实际测试电路电连接；标准测试电路，用于测试标准座上标准温度传感器在当前环境温度下的标准电阻值；实际测试电路，用于测试测试座上待测温度传感器在当前环境温度下的实际电阻值；控制单元，用于根据标准电阻值和实际电阻值计算得出待测温度传感器在预设温度下的实际标准电阻值。该测试设备在当前环境温度下就可以获得待测温度传感器在预设温度下的实际标准电阻值，测试方便快捷，可实现稳定量产。
基本信息
专利标题 ：
测试设备及温度传感器的测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114414095A
申请号 ：
CN202111673847.2
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李翔康海娟张广东
申请人 ：
通富微电子股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省南通市崇川路288号
代理机构 ：
北京中知法苑知识产权代理有限公司
代理人 ：
李明
优先权 ：
CN202111673847.2
主分类号 ：
G01K15/00
IPC分类号 ：
G01K15/00 G01J5/90
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01K
温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件
G01K15/00
温度计的测试或校准
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01K 15/00
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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