本发明涉及芯片测试技术领域，且公开了一种温度敏感型芯片测试设备及其测试方法，包括测试设备本体、故障自停设备和定位槽，所述定位槽开设于测试设备本体的顶部，所述定位槽内壁的右侧开设有凹槽，所述凹槽的内部设置有定位机构，所述定位槽的内部插接有定位块，所述定位块的顶部与故障自停设备的底部固定连接，所述测试设备本体的内部设置有降温系统。本发明，通过设置测试设备本体、故障自停设备和降温系统的配合使用，这样就能够很好的保证内部的温度不会超标，使内部的温度始终一直，解决了故障自停和降温效果差的问题，该温度敏感型芯片测试设备及其测试方法，具备故障自停和降温效果好的优点。