GIS中特高频-光信号一致性测试设备及装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种GIS中特高频‑光信号一致性测试设备及装置，其中设备包括脉冲发生器、光源控制器、开关、试验腔体、特高频发射传感器、光源、特高频接收传感器、光电倍增管和示波器，开关的输入端分别连接脉冲发生器和光源控制器，输出端分别连接特高频发射传感器和光源，特高频接收传感器和光电倍增管均与示波器连接，特高频发射传感器和光源置于试验腔体内的一端，特高频接收传感器和光电倍增管置于试验腔体内的另一端，试验腔体内设有用于放置障碍物的容置槽，该容置槽位于光源和光电倍增管之间，并位于特高频发射传感器和特高频接收传感器之间。与现有技术相比，本实用新型可测试各类障碍物对放电所产生的光、特高频信号一致性的影响规律。
基本信息
专利标题 ：
GIS中特高频-光信号一致性测试设备及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920803573.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-30
授权号 ：
CN210222183U
授权日 ：
2020-03-31
发明人 ：
陈璐司文荣傅晨钊高凯吴天逸
申请人 ：
国网上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区源深路1122号
代理机构 ：
上海科盛知识产权代理有限公司
代理人 ：
蔡彭君
优先权 ：
CN201920803573.6
主分类号 ：
G01R31/12
IPC分类号 ：
G01R31/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/12
•测试介电强度或击穿电压
法律状态
2020-03-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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