GIS中特高频-光信号一致性测试设备及装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种GIS中特高频‑光信号一致性测试设备及装置,其中设备包括脉冲发生器、光源控制器、开关、试验腔体、特高频发射传感器、光源、特高频接收传感器、光电倍增管和示波器,开关的输入端分别连接脉冲发生器和光源控制器,输出端分别连接特高频发射传感器和光源,特高频接收传感器和光电倍增管均与示波器连接,特高频发射传感器和光源置于试验腔体内的一端,特高频接收传感器和光电倍增管置于试验腔体内的另一端,试验腔体内设有用于放置障碍物的容置槽,该容置槽位于光源和光电倍增管之间,并位于特高频发射传感器和特高频接收传感器之间。与现有技术相比,本实用新型可测试各类障碍物对放电所产生的光、特高频信号一致性的影响规律。
基本信息
专利标题 :
GIS中特高频-光信号一致性测试设备及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920803573.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-05-30
授权号 :
CN210222183U
授权日 :
2020-03-31
发明人 :
陈璐司文荣傅晨钊高凯吴天逸
申请人 :
国网上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区源深路1122号
代理机构 :
上海科盛知识产权代理有限公司
代理人 :
蔡彭君
优先权 :
CN201920803573.6
主分类号 :
G01R31/12
IPC分类号 :
G01R31/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/12
•测试介电强度或击穿电压
法律状态
2020-03-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载