一种光学瞄具透过率的测试装置
授权
摘要
本实用新型公开的属于光学测量技术领域，具体为一种光学瞄具透过率的测试装置，其包括：操作平台、暗箱、光源、光栅单色仪和计算机，所述操作平台的前侧壁顶部固定安装所述暗箱，所述暗箱的内腔后侧壁固定安装滑轨，所述滑轨的前侧壁滑动连接八个调节支架，每个所述调节支架的顶部从左到右依次固定安装所述光源、聚焦镜、带孔挡板、准直镜、光阑、待测光学瞄具、短焦透镜和积分球，所述操作平台的前侧壁右侧下方固定安装所述光栅单色仪，所述操作平台的前侧壁中部固定安装所述计算机，该实用新型满足了军事上的测试需求，且容易操作，同时不易受到环境光的干扰，测试结果更加精确的综合效果。
基本信息
专利标题 ：
一种光学瞄具透过率的测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920827699.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-04
授权号 ：
CN210108680U
授权日 ：
2020-02-21
发明人 ：
王治洋黄旭张程承刘颂
申请人 ：
长春光吉科技有限责任公司
申请人地址 ：
吉林省长春市高新区超越大街益田拉德芳斯1715室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201920827699.7
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-02-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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