一种光学装置的点源透过率测试系统
授权
摘要
本实用新型为一种光学装置的点源透过率测试系统。本系统的支撑结构X轴一端固定平行光管，二维转台安装于支撑结构X轴另一端，其上安装光电经纬仪和待测光学装置。光电经纬仪配有可调节方位角和俯仰角的望远镜。二维转台为具有竖直Z方向旋转轴和水平Y方向旋转轴的、可调节水平方位角度和竖直俯仰角度的转台。使用时调节光电经纬仪转动θ，二维转台转动‑θ1，视场内的平顶光纤中心返回十字丝中心，记录此时的角度和待测光学装置对应的点源透过率PST；继续调节光电经纬仪转动角度，得到系列的θi和对应的PST(θi),做出PST曲线。本系统提高点源透过率测量的动态范围，原理简单，操作方便，易于实施。
基本信息
专利标题 ：
一种光学装置的点源透过率测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922365676.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-25
授权号 ：
CN211042668U
授权日 ：
2020-07-17
发明人 ：
马拥华孙晖杨乾远刘金标蒋相刘学周远文
申请人 ：
中国电子科技集团公司第三十四研究所
申请人地址 ：
广西壮族自治区桂林市七星区六合路98号
代理机构 ：
桂林市持衡专利商标事务所有限公司
代理人 ：
欧阳波
优先权 ：
CN201922365676.1
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-07-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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