一种点源透过率测试系统

授权

摘要

本实用新型属于光学系统杂散光测试领域，涉及一种点源透过率测试系统，以解决PST测试精度受杂光影响的问题。包括光源、平行光管及测试腔体，还包括设置在平行光管出光口与测试腔体入光口之间的可变光阑装置；可根据被测相机口径以及测试角度选择合适的光阑大小，以屏蔽测试孔径之外的入射光柱，减少杂光辐射量，同时设计用于点源透过率测试的双球型腔体，其横竖截面与双圆柱型腔体相同，该腔体结构的截面在方位和俯仰上同时兼顾双圆柱型腔体的消光优点，使得相机测试角度为非水平方向时，腔体内壁反射光线经过多次反射后，能够进入到相机内部的杂光几乎可以忽略向完全不受限，保证杂光测试的顺利进行。

基本信息

专利标题：

一种点源透过率测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921878539.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-11-04

授权号：

CN211147990U

授权日：

2020-07-31

发明人：

李朝辉赵建科徐亮刘峰张玺斌李晓辉午建军刘勇毛振

申请人：

中国科学院西安光学精密机械研究所

申请人地址：

陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号

代理机构：

西安智邦专利商标代理有限公司

代理人：

汪海艳

优先权：

CN201921878539.1

主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

G01M11/02