显微透过率测试设备

授权

摘要

本实用新型涉及一种显微透过率测试设备，包括产品台、对孔组件、上光源件及测光组件。产品台设有用于放置待测产品的测试位；对孔组件设置于所述测试位的上方，测试光线能穿过所述对孔组件至透过测试位；上光源件设置于对孔组件上且位于靠近测试位的一端，用于在待测产品对孔时照亮测试位；测光组件设置在测试位的下方。位于测试位及待测产品上方的上光源件开启，照亮测试位上的待测产品，可以清晰地观测到测试光线是否全部通过待测产品上的待测孔位。无需往返移动背光源，能方便快捷地进行对孔操作，有效提高了检测效率。

基本信息

专利标题：

显微透过率测试设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020145695.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-01-22

授权号：

CN211553752U

授权日：

2020-09-22

发明人：

鲁玉侠

申请人：

广州玉科仪器有限公司

申请人地址：

广东省广州市白云区鹤龙街启德路30号A628房

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司

代理人：

李丹

优先权：

CN202020145695.3

主分类号：

G01N21/59

IPC分类号：

G01N21/59