一种新型硬件测试平台
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摘要

本实用新型公开了一种新型硬件测试平台,包括底座,所述底座上端固定连接有箱体,所述箱体顶端中部固定连接有第一刻度尺,所述箱体内部开设有第一腔体,所述第一腔体底端内壁上设有滑轮,所述滑轮的转轴上转动连接有滑杆,所述第一腔体上端内壁上开设有滑槽,所述滑杆顶端贯穿滑槽,所述滑杆内部开设有第二腔体,所述第二腔体内部设有滑块,所述滑杆的外壁上开设有插孔,所述插孔与第二腔体相连通。本实用新型中,当需要测试硬件横向尺寸时,通过水平拉动夹板进行调节,夹板的运动带动了滑杆的滑动,调节好位置后,通过读取第一刻度尺上相应的刻度,从而达到知晓硬件横向尺寸的效果。

基本信息
专利标题 :
一种新型硬件测试平台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920854448.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-07
授权号 :
CN210268413U
授权日 :
2020-04-07
发明人 :
印广忠
申请人 :
江苏广中电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省南通市海门市包场镇沿海大道18号
代理机构 :
苏州国卓知识产权代理有限公司
代理人 :
明志会
优先权 :
CN201920854448.8
主分类号 :
G01B5/00
IPC分类号 :
G01B5/00  G01B5/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
法律状态
2020-04-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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