用于原位检测密集排布大口径光学元件的安装夹持框
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于原位检测密集排布大口径光学元件的安装夹持框,包括夹持框本体,所述夹持框本体的内壁上凹陷形成有一圈沿夹持框本体周向延伸的线光源安装槽,在该线光源安装槽的槽底安装有一圈沿线光源安装槽延伸的线光源,在所述线光源安装槽的槽口安装有一圈沿线光源安装槽延伸的狭缝光阑,该狭缝光阑的狭缝,在所述夹持框本体的内侧设置有两圈遮光条,所述遮光条的外缘或与狭缝光阑紧密贴合,或与夹持框本体的内壁紧密贴合。采用以上技术方案,具备了排除相邻元件干扰,配合获取无伪损伤的高质量元件损伤图像的能力,以直观地原位在线监测大口径光学元件的损伤,便捷高效获得损伤的尺寸和分布位置信息。
基本信息
专利标题 :
用于原位检测密集排布大口径光学元件的安装夹持框
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920893363.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-14
授权号 :
CN210347435U
授权日 :
2020-04-17
发明人 :
张传超王海军张丽娟蒋晓龙陈静方振华廖威栾晓雨蒋晓东
申请人 :
中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请人地址 :
四川省绵阳市游仙区绵山路64号
代理机构 :
重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
蔡冬彦
优先权 :
CN201920893363.0
主分类号 :
G01N21/15
IPC分类号 :
G01N21/15 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
G01N21/15
防止光学装置的部件的沾污或光路的障碍
法律状态
2020-04-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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