一种用于EBSD的预倾斜样品台装置
授权
摘要
一种用于EBSD的预倾斜样品台装置，属于实验室EBSD分析技术领域。装置包括样品台、表面样品、截面样品和样品座；样品台为T字型台，T字型台横梁为四棱柱，横梁长度尺寸为60～80mm，横梁上顶面为20°的斜面，横梁正前方斜面为70°，与上顶面成直角；T字型台横梁中心垂直位置有一竖梁，样品台的竖梁与样品座相连接；样品台的横梁上顶面上有截面样品；样品台横梁正前方斜面上有表面样品。优点在于，一次性可以放置多个用于EBSD分析的表面或截面样品，实用性强。
基本信息
专利标题 ：
一种用于EBSD的预倾斜样品台装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920898230.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-14
授权号 ：
CN211348012U
授权日 ：
2020-08-25
发明人 ：
崔桂彬鞠新华王泽阳杨瑞
申请人 ：
首钢集团有限公司
申请人地址 ：
北京市丰台区石景山路68号
代理机构 ：
北京华谊知识产权代理有限公司
代理人 ：
王普玉
优先权 ：
CN201920898230.2
主分类号 ：
G01N23/20025
IPC分类号 ：
G01N23/20025
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构，例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统；其配件；样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2020-08-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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