一种预倾斜样品台
授权
摘要
本实用新型公开了一种预倾斜样品台，属于实验室检测分析技术领域。所述预倾斜样品台包括：立柱、支撑台及若干横梁；所述立柱的顶部与所述支撑台固定连接；若干所述横梁固定设置在所述支撑台背离所述立柱的端面上；所述表面样品可拆卸式地设置在横梁的第一面上，所述截面样品可拆卸式地设置在所述横梁的第二面上；所述第一面与竖直面成20°，所述第二面与所述第一面成90°。本实用新型预倾斜样品台在进行EBSD分析时可以一次性分析多个样品，减少了实验周期，同时也减少了由取样换样所导致的设备零部件损耗。
基本信息
专利标题 ：
一种预倾斜样品台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021038007.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-09
授权号 ：
CN212364140U
授权日 ：
2021-01-15
发明人 ：
崔桂彬杨一雷孟杨鞠新华姜中行
申请人 ：
首钢集团有限公司
申请人地址 ：
北京市石景山区石景山路68号
代理机构 ：
北京华沛德权律师事务所
代理人 ：
房德权
优先权 ：
CN202021038007.X
主分类号 ：
G01N23/20025
IPC分类号 ：
G01N23/20025 G01N23/203 G01N23/207
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构，例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统；其配件；样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2021-01-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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