一种预倾斜样品台
授权
摘要
本实用新型公开了一种预倾斜样品台,属于实验室检测分析技术领域。所述预倾斜样品台包括:立柱、支撑台及若干横梁;所述立柱的顶部与所述支撑台固定连接;若干所述横梁固定设置在所述支撑台背离所述立柱的端面上;所述表面样品可拆卸式地设置在横梁的第一面上,所述截面样品可拆卸式地设置在所述横梁的第二面上;所述第一面与竖直面成20°,所述第二面与所述第一面成90°。本实用新型预倾斜样品台在进行EBSD分析时可以一次性分析多个样品,减少了实验周期,同时也减少了由取样换样所导致的设备零部件损耗。
基本信息
专利标题 :
一种预倾斜样品台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021038007.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-09
授权号 :
CN212364140U
授权日 :
2021-01-15
发明人 :
崔桂彬杨一雷孟杨鞠新华姜中行
申请人 :
首钢集团有限公司
申请人地址 :
北京市石景山区石景山路68号
代理机构 :
北京华沛德权律师事务所
代理人 :
房德权
优先权 :
CN202021038007.X
主分类号 :
G01N23/20025
IPC分类号 :
G01N23/20025 G01N23/203 G01N23/207
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2021-01-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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