本实用新型提供了一种可调IC测试座，包括基座和四个移动块，基座上设置有放置芯片的第一凹陷部，移动块设置在第一凹陷部中，弹性结构设置在第一凹陷部的内侧壁和移动块之间；移动块向靠近第一凹陷部的内侧壁的方向移动，弹性结构被压缩，增大第一凹陷部中放置芯片的区域；弹性结构恢复形变，移动块在弹力的作用下向远离内侧壁的方向移动，减小第一凹陷部中放置芯片的区域。可调IC测试座采用了移动块，利用弹性结构平衡压力的原理，通过增加或减小移动块与第一凹陷部的内侧壁的距离，将芯片固定在测试座的中心，使得测试座中放置芯片的区域变小或变大，从而可以测试不同尺寸的芯片，避免频繁更换测试座，具有使用方便、通用性强和节约成本等优点。