本发明公开了一种可调节测试通道的测试装置，包括机箱、总线背板、主卡以及多个卡槽结构与功能卡，所述总线背板安装在所述机箱内，所述卡槽结构插入所述机箱内，每个所述功能卡装载在对应的一个所述卡槽结构上，并通过所述总线背板与所述主卡信号连接；其中，所述功能卡的数量小于或者等于所述卡槽结构的数量，每个所述功能卡具有多个测试通道；依据测试要求配置所述功能卡的数量，以将每个所述测试通道配置为与一个外置的探针卡信号连接。本发明提供的技术方案解决相关技术中测试装置测试效率低、兼容性差且容易造成资源浪费的技术问题。