一种可调节芯片测试工装
授权
摘要

本实用新型公开了一种可调节芯片测试工装,包括底板,底板上端面一侧固定安装立柱,立柱的顶部固定连接上横梁,立柱滑动穿过中间滑块,上横梁的上端面中间固定安装气缸筒,气缸筒内设置活塞杆,活塞杆的下端固定连接中间滑块,中间滑块上安装有安装座,底板的上端面且位于安装座的下侧设有调节座,调节座上设置工作台面,工作台面上放置芯片。该可调节芯片测试工装,通过将芯片放置在工作台面上,使用可升降的安装座,对芯片进行温度测试,大大提高了测试效率,且使用方便、实用,设置的活塞杆与活塞螺接,调节气缸筒下端的活塞杆伸出长度,调节中间滑块的位置,进而调节安装座的位置,实用性强。

基本信息
专利标题 :
一种可调节芯片测试工装
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122799432.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-16
授权号 :
CN216248233U
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
王智勇
申请人 :
泰州日晞机械制造有限公司
申请人地址 :
江苏省泰州市兴化市临城街道三王村
代理机构 :
南京瑞华腾知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
钱丽
优先权 :
CN202122799432.1
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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