一种便携式光学元件平面度测量装置
授权
摘要

本实用新型提供了一种便携式光学元件平面度测量装置,涉及光学元件技术领域,包括有平整度检测装置基准平台,平整度检测装置包括有横梁、高度计、第一支撑脚和第二支撑脚,横梁的上方中央贯穿设置有高度计,横梁的左端底部表面焊接设置有第一支撑脚,横梁的右端底部焊接设置有两个第二支撑脚。该装置通过设置有基准平台,通过在基准平台的底部表面中央通过铰链连接,且在基准平台的内部设置有嵌入槽,通过将横梁上的伸缩杆完全嵌入与伸缩槽内后平整度检测装置的长度小于嵌入槽的深度,使得伸缩杆完全嵌入与伸缩槽内后平整度检测装置可放于嵌入槽内,从而使得携带更加的方便。

基本信息
专利标题 :
一种便携式光学元件平面度测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920943590.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-21
授权号 :
CN210128701U
授权日 :
2020-03-06
发明人 :
吴德国
申请人 :
成都欧光光学科技有限公司
申请人地址 :
四川省成都市天府新区籍田街道北街15号4附1-1层
代理机构 :
成都熠邦鼎立专利代理有限公司
代理人 :
汤楚莹
优先权 :
CN201920943590.X
主分类号 :
G01B21/30
IPC分类号 :
G01B21/30  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/26
••用于检测轮子的准直度
G01B21/30
用于计量表面的粗糙度或不规则性
法律状态
2020-03-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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