机载辐射校正装置及系统
授权
摘要
本实用新型提供一种机载辐射校正装置及系统，机载辐射校正装置固设于飞行器的顶部，机载辐射校正装置包括装置控制器、反射本体、至少两个入射本体和设于每个入射本体上的成像模块；装置控制器与成像模块电连接；入射本体和反射本体连接，且每个入射本体与反射本体具有一夹角；反射本体设有漫反射板，漫反射板用于将外部光源反射至成像模块；装置控制器用于发送采集指令时至成像模块；成像模块用于在接收到采集指令时获取由反射的外部光源生成的反射影像并发送至装置控制器。本实用新型中机载辐射校正装置和机载拍摄设备可观测的波段一一对应，且具有统一的时间时空基准，进而可以实现在同一标准光源下辐射校正作业。
基本信息
专利标题 ：
机载辐射校正装置及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920951578.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-24
授权号 ：
CN210242985U
授权日 ：
2020-04-03
发明人 ：
艾克然木·艾克拜尔周源刘春曾勇
申请人 ：
上海同繁勘测工程科技有限公司
申请人地址 ：
上海市宝山区高境镇殷高路1号1号楼中设广场302室
代理机构 ：
上海弼兴律师事务所
代理人 ：
薛琦
优先权 ：
CN201920951578.3
主分类号 ：
G01J3/28
IPC分类号 ：
G01J3/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2020-04-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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