一种GT200低噪声高精度阿达玛变换多参数检测仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种GT200低噪声高精度阿达玛变换多参数检测仪，属于检测技术领域，包括荧光检测池，所述荧光检测池一侧安装有第一透镜，所述第一透镜一侧安装有滤光片，所述滤光片一侧安装有疝灯，所述荧光检测池另一侧安装有消光器，所述荧光检测池顶部一侧安装有第二透镜，所述第二透镜一侧安装有狭缝，所述狭缝一侧安装有光栅，所述光栅顶部一侧安装有准直镜，所述准直镜一侧安装有反射镜，所述光栅一侧安装有微镜阵列。本实用新型采用数字微镜DMD作为阿达玛编码模板，并利用FPGA和NXP单片机相结合，实现1024个码元模板信号的产生、移动等控制，以此为核心，构建了一个结构紧凑、体积小巧的可见光光谱仪。
基本信息
专利标题 ：
一种GT200低噪声高精度阿达玛变换多参数检测仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920954677.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-24
授权号 ：
CN210639086U
授权日 ：
2020-05-29
发明人 ：
彭志远沈金平王国伟
申请人 ：
浙江谱创仪器有限公司
申请人地址 ：
浙江省嘉兴市南湖区汇信路193号
代理机构 ：
嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王家蕾
优先权 ：
CN201920954677.7
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2020-05-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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