一种可编程衍射光栅型阿达玛变换光谱仪
公开
摘要
本发明公开的可编程衍射光栅型阿达玛变换光谱仪，包括第一单色仪、第二单色仪和可编程衍射光栅；第一单色仪包括入射狭缝、准直镜Ⅰ、光栅Ⅰ和聚光镜Ⅰ，将通过入射狭缝入射光线经准直镜Ⅰ准直后，经过光栅Ⅰ分光后经聚光镜Ⅰ成像到所述可编程衍射光栅上；第二单色仪包括准直镜Ⅱ、光栅Ⅱ、聚光镜Ⅱ和位于出射狭缝处的探测器，接收可编程衍射光栅5的反射光线，反射光线经准直镜Ⅱ准直后经光栅Ⅱ衍射，然后经聚光镜Ⅱ汇聚光谱图像到所述探测器上。通过微型光机电器件替代机械模板扫描，避免机械故障、结构简单、容易实现、信噪比高、光谱成像质量好，广泛应用于环境分析、资源勘测、医疗分析检测、空间探测、气象、军事分析等方面。
基本信息
专利标题 ：
一种可编程衍射光栅型阿达玛变换光谱仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114593819A
申请号 ：
CN202011415342.1
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2020-12-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李博林冠宇顾国超李寒霜黄煜杨小虎李占峰张子辉
申请人 ：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 ：
吉林省长春市东南湖大路3888号
代理机构 ：
北京理工大学专利中心
代理人 ：
李爱英
优先权 ：
CN202011415342.1
主分类号 ：
G01J3/28
IPC分类号 ：
G01J3/28 G01J3/02 G01N21/25
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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