基于NO FLASH总成模组的烧录及测试装置
授权
摘要
本实用新型公开一种基于NO FLASH总成模组的烧录及测试装置，包括：主控MCU，分别与所述主控MCU电连接的存储单元、FPGA，分别与所述FPGA电连接的SSD2828桥接芯片或SSD2829桥接芯片、三个SD‑RAM存储，与所述SSD2828桥接芯片电连接的MIPI接口，与所述主控MCU连接的SPI接口；所述MIPI接口、SPI接口与NO FLASH总成模组的TDDI驱动IC电连接。本实用新型可以直接通过MIPI接口、SPI接口与NO FLASH总成模组的TDDI驱动IC电连接，使得主控MCU可通过MIPI接口、SPI接口与NO FLASH总成模组交互数据，继而实现对显示和触摸的测试；无需使用TDDI驱动IC原厂测试板，提升测试效率，降低成本。
基本信息
专利标题 ：
基于NO FLASH总成模组的烧录及测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921020838.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-02
授权号 ：
CN209980231U
授权日 ：
2020-01-21
发明人 ：
韦文勇齐斌斌何海生何柏根
申请人 ：
深圳市创元微电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区华繁工业区工业楼4层
代理机构 ：
深圳市中科创为专利代理有限公司
代理人 ：
谭雪婷
优先权 ：
CN201921020838.1
主分类号 ：
G06F8/61
IPC分类号 ：
G06F8/61 G06F11/273 G09G3/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F8/00
软件工程设计
G06F8/60
软件部署
G06F8/61
安装
法律状态
2020-01-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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