一种高测试密度电路测试板
授权
摘要

本实用新型公开了一种高测试密度电路测试板,具体涉及测试板技术领域,包括待测电路板,所述待测电路板的底端表面设置有电极,且待测电路板的底端设置有电路测试板,所述电路测试板包括调节板和基板,所述调节板位于基板的上方位置,且调节板的表面贯穿开设有通孔,所述基板的表面开设有定位孔。本实用新型设置了滑块以及滑槽,探针在定位孔的内部伸缩,并对待测电路板的高密度测试,实现了探针的定向滑动,保证了待测电路板的稳定测试,第一弹簧以及第二弹簧增加了电路测试板的缓冲性能,设置了强化层以及抗氧化层,可提升探针凸起的强度,利用抗氧化层作为探针凸起与外部空气接触的缓冲层,来防止探针凸起氧化。

基本信息
专利标题 :
一种高测试密度电路测试板
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921064420.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-09
授权号 :
CN210323276U
授权日 :
2020-04-14
发明人 :
白湖正孙承民
申请人 :
永海电子科技(南京)有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市经济技术开发区新港大道42号2期1区21#102号楼
代理机构 :
南京聚匠知识产权代理有限公司
代理人 :
宋艳
优先权 :
CN201921064420.0
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-04-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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