一种X射线检测设备
授权
摘要
本实用新型属于检测设备领域，公开了一种X射线检测设备，包括：外壳，外壳上设有可启闭的门结构；插销，插销的一端设置在门结构上；限位开关，限位开关设置在外壳内部；报警器，报警器与限位开关电连接；锁紧件，插销的另一端和外壳上分别设有通孔；当门结构关闭时，锁紧件穿过插销的另一端的通孔和外壳的通孔，并抵接限位开关，报警器关闭；当门结构开启时，锁紧件离开限位开关，报警器开启。本实用新型当门结构开启时，报警器工作，以提醒工作人员需要做好防护措施，避免现场人员受到射线伤害；当门结构开启时，报警器一直处于报警状态，可提醒工作人员及时关闭门结构，以防止检测设备内部的电子元器件因长期暴露在外部环境中而导致损坏。
基本信息
专利标题 ：
一种X射线检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921071829.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-10
授权号 ：
CN210514125U
授权日 ：
2020-05-12
发明人 ：
王辉董弈王晶晶
申请人 ：
上海微现检测设备有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区金丰路455号4幢1楼东部分
代理机构 ：
上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
董磊
优先权 ：
CN201921071829.5
主分类号 ：
G01N23/00
IPC分类号 ：
G01N23/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
法律状态
2020-05-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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