一种交叉式探伤扫查装置
授权
摘要
本实用新型公开一种交叉式探伤扫查装置,包括轴线交叉的两个检测探头,还包括主支架和两个侧支架,主支架的两端分别铰接两个侧支架,各个侧支架上均安装有夹具,两个夹具分别夹持两个检测探头,两个侧支架能够相对于主支架摆动,以分别调节两个检测探头轴线的相对位置。检测前通过两个夹具分别夹持两个检测探头,并通过侧支架的摆动调整两个检测探头的相对位置和角度,并能够在检测时保持不动,保证检测结果准确稳定,同时通过调节检测探头的相对位置和角度,进而扫查不同尺寸类型的工件,检测出不同角度的缺陷,满足多种类型的检测需求,提高适用性,结构简单使用方便,方便拆装检测探头,适用于在多种工作环境。
基本信息
专利标题 :
一种交叉式探伤扫查装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921085524.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-11
授权号 :
CN210626420U
授权日 :
2020-05-26
发明人 :
魏烁靳峰李世铭
申请人 :
润电能源科学技术有限公司
申请人地址 :
河南省郑州市二七区嵩山南路85号
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
孔祥贵
优先权 :
CN201921085524.X
主分类号 :
G01N33/00
IPC分类号 :
G01N33/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/00
利用不包括在G01N1/00至G01N31/00组中的特殊方法来研究或分析材料
法律状态
2020-05-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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