相控阵扫查装置
授权
摘要
本实用新型涉及相控阵扫查领域，提供一种相控阵扫查装置，包括导轨机构，导轨机构沿焊缝的长度方向设置；移控机构，移控机构设于导轨机构上，移控机构可沿导轨机构的长度方向往复移动；扫查机构，扫查机构与移控机构连接，并与移控机构同步移动，扫查机构与焊缝扫查检测适配。本实用新型通过设置导轨机构、移控机构和扫查机构，提高扫查机构扫查稳定性，提高扫查装置适用性，轻量化整体装置，便于携带，安装定位便捷，提高检测效率，降低检测成本。
基本信息
专利标题 ：
相控阵扫查装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202220193614.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2022-01-25
授权号 ：
CN216696183U
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
吴超施琪陈军谷国强
申请人 ：
同纳检测认证集团有限公司
申请人地址 ：
上海市普陀区古浪路415弄6号
代理机构 ：
上海沣成知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
徐洋洋
优先权 ：
CN202220193614.6
主分类号 ：
G01N29/265
IPC分类号 ：
G01N29/265 G01N29/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/22
零部件
G01N29/26
用于定位或扫描的结构
G01N29/265
通过相对于固定物体移动传感器
法律状态
2022-06-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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