带导轨手动扫查装置及相控阵超声检测系统
授权
摘要

本申请实施例提供一种带导轨手动扫查装置及相控阵超声检测系统,包括:设置有滑轨和导轨的框架主体和固定在所述滑轨的轨道上的探头升降组件;所述框架主体通过绑带有效固定在扫查物体检测面上;所述探头升降组件的底部设置有探头楔块,所述探头楔块开设有用于对相控阵检测仪的探头进行限位的第一通孔,所述探头升降组件的顶部设置有上固定板,所述上固定板上设置有至少一个弹簧;所述弹簧的一端与所述上固定板连接,所述弹簧的另一端与所述下固定板相抵,并在弹簧压缩状态时向所述下固定板和夹持腿施加一垂直向下的压力,以使所述相控阵检测仪的探头与待扫查物体的检测面紧密贴合;本申请能够实现对相控阵检测装置的有效固定,提高检测效率。

基本信息
专利标题 :
带导轨手动扫查装置及相控阵超声检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020912983.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-26
授权号 :
CN212275670U
授权日 :
2021-01-01
发明人 :
余超王智春马延会苏德瑞张磊于长任尹建锋张泽宇
申请人 :
华北电力科学研究院有限责任公司;国家电网有限公司;国网冀北电力有限公司承德供电公司
申请人地址 :
北京市西城区复兴门外地藏庵南巷一号
代理机构 :
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 :
王涛
优先权 :
CN202020912983.7
主分类号 :
G01N29/04
IPC分类号 :
G01N29/04  G01N29/22  G01N29/265  G01R31/12  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料;靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/04
固体分析
法律状态
2021-01-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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