一种光电子器件金属外壳密封测试装置
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种光电子器件金属外壳密封测试装置，包括底座、密封检测箱、控制器、放置架、金属外壳本体、气压传感器和真空泵，底座的上部安装有密封检测箱，密封检测箱的外壁上安装有控制器，密封检测箱的内部放置有放置架，放置架放置有金属外壳本体，金属外壳本体的内部安置有气压传感器，密封检测箱的上部安装有箱盖，密封检测箱上安装有抽气管，抽气管上安装有真空泵，密封检测箱的箱壁上安装有进气管，进气管上安装有电磁阀。本实用新型通过设置的底座、密封检测箱、控制器、放置架、金属外壳本体、气压传感器和真空泵，解决了人工逐个的对其金属外壳进行检测，检测起来速度慢、效率低的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种光电子器件金属外壳密封测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921086518.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-12
授权号 ：
CN209927390U
授权日 ：
2020-01-10
发明人 ：
朱俊晋传彬丁绍平温从众
申请人 ：
马鞍山秉信光电科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省马鞍山市慈湖高新区霍里山大道北段1669号2栋
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921086518.6
主分类号 ：
G01M3/32
IPC分类号 ：
G01M3/32
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M3/00
结构部件的流体密封性的测试
G01M3/02
应用流体或真空
G01M3/26
通过测量流体的增减速率，例如，用压力响应装置，用流量计
G01M3/32
用于容器，例如，散热器
法律状态
2021-07-06 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01M 3/32
申请日 : 20190712
授权公告日 : 20200110
终止日期 : 20200712
申请日 : 20190712
授权公告日 : 20200110
终止日期 : 20200712
2020-01-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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