一种基于相干原理的偏振态检测装置
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摘要

本实用新型公开了一种基于相干原理的偏振态检测装置,包括第一本地激光器、第二本地激光、偏振分束器、第一偏振不敏感光分束器、第二偏振不敏感光束光器、第一光探测器、第二光探测器、数采卡、计算机,所述偏振分束器会将待测的输入光分为x偏振与y偏振两路,所述x偏振光路前方设置有第一偏振不敏感分束器且所述y偏振光路前方设置有第二偏振不敏感分束器,该偏振态检测装置巧妙地利用传感器自带的激光器,通过与被测光的x分量与y分量交叉相干,由数据处理得到两个分量的相位差,并计算出相关的斯托克斯参数且具有体积小、重量轻、成本低等优点。

基本信息
专利标题 :
一种基于相干原理的偏振态检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921115664.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-16
授权号 :
CN210664772U
授权日 :
2020-06-02
发明人 :
吴重庆
申请人 :
南京恒高光电研究院有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市栖霞区尧化街道尧佳路7号上城风景北苑16幢1007室
代理机构 :
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 :
吴东勤
优先权 :
CN201921115664.7
主分类号 :
G01J4/04
IPC分类号 :
G01J4/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J4/00
测量光的偏振
G01J4/04
用电检测方法的偏振计
法律状态
2020-06-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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