一种液晶屏划痕检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种液晶屏划痕检测装置,包括检测平台，还包括设置在检测平台上的待测液晶屏放置座、光源系统、支架、安装在支架上的相机系统；所述光源系统包括连接在支架上的正面光源、设置在检测平台上的侧面光源；且所述正面光源与相机系统同轴，并在支架上设置有正面光源调整机构。采用本实用新型通过自动打光测试找出被检测目标的在一定范围内打光效果最优的参数方案，从而得出更优的图像处理结果和可复用的打光方案。
基本信息
专利标题 ：
一种液晶屏划痕检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921124558.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-18
授权号 ：
CN210953862U
授权日 ：
2020-07-07
发明人 ：
周宇航冯西虞建王盼刘中张勇
申请人 ：
成都新西旺自动化科技有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区(西区)西芯大道4号创新中心B231-232
代理机构 ：
成都拓荒者知识产权代理有限公司
代理人 ：
邹广春
优先权 ：
CN201921124558.5
主分类号 ：
G01N21/95
IPC分类号 ：
G01N21/95 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2020-07-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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