一种用于铝电解电容老化试验的夹持工装
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摘要

本申请公开了一种用于铝电解电容老化试验的夹持工装,包括底座和盖板,底座的下端与老化板固定连接,盖板与底座可拆卸连接。底座的上端设置有向下凹入的半圆柱形面,盖板的下端设置有向上凹入的半圆柱形面,盖板支撑在底座上,底座和盖板上的半圆柱形面上下相对,以使盖板与底座之间形成用于容纳铝电解电容的空间。底座和盖板上的半圆柱形面的直径和铝电解电容的直径相同。如此设置,进行老化测试试验时,可将铝电解电容放置在底座上,然后将盖板可拆卸的固定在底座上即可实现对铝电解电容的固定,在老化测试试验结束后,将盖板从底座上拆卸下来即可将铝电解电容取下,通过该夹持工装实现了对铝电解电容的固定,提高了老化测试试验的安全可靠性。

基本信息
专利标题 :
一种用于铝电解电容老化试验的夹持工装
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921165074.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-23
授权号 :
CN210401555U
授权日 :
2020-04-24
发明人 :
赵臣龙杨海亮
申请人 :
北京京瀚禹电子工程技术有限公司
申请人地址 :
北京市昌平区沙河镇松兰堡村西海特光电院内办公楼1层102室
代理机构 :
北京细软智谷知识产权代理有限责任公司
代理人 :
张合成
优先权 :
CN201921165074.5
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2020-04-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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