近场探头和探测设备
授权
摘要

本实用新型实施例公开了近场探头和探测设备。该近场探头包括:探头主体、伸缩组件和柔性线。伸缩组件为中空结构,且能够相对于探头主体的第一端伸缩移动。柔性线的第一端与探头主体的输出端电连接,第二端设置有金属探针。柔性线穿过伸缩组件,且金属探针和部分柔性线伸出探头主体的第一端。当伸缩组件伸出探头主体的第一端时,近场探头作为电场探头;当伸缩组件缩回至探头主体的内部,且伸出的柔性线形成近似圆形时,近场探头作为磁场探头。这种结构的近场探头通过调整伸缩组件的伸缩状态,便可以实现电场探头与磁场探头的切换。这样不仅降低了操作的繁琐性,而且减少了探头接口的磨损。有利于保证近场探头的测量准确性,延长其使用寿命。

基本信息
专利标题 :
近场探头和探测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921184357.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-24
授权号 :
CN210514496U
授权日 :
2020-05-12
发明人 :
马建旺黎力周梦婵
申请人 :
合肥联宝信息技术有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦4楼418号
代理机构 :
北京金信知识产权代理有限公司
代理人 :
郭迎侠
优先权 :
CN201921184357.4
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R29/08  G01R29/14  G01R33/10  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2020-05-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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