一种双脊波导和一种裸芯片测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种双脊波导和一种裸芯片测试装置,属于芯片测试领域。一种双脊波导,包括外腔体和内腔,外腔体剖面为等腰梯形,双脊波导的内腔对称设置有一对线性渐变棱,双脊波导的输入端口为高宽比是2:1的标准波导口,双脊波导的输出端口是高宽比为(5~10):1的非标矩形波导口。一种裸芯片测试装置,包括夹具本体,以及连接在夹具本体两端的输入脊波导和输出脊波导,输入脊波导和输出脊波导结构相同且以夹具本体的中心轴线对称设置,输入脊波导和输出脊波导采用上述的双脊波导。本实用新型的双脊波导通过对外腔体和内腔的配合改进,使得测试装置可以覆盖超过三倍频程超宽带频带范围,显著提高测试效率。
基本信息
专利标题 :
一种双脊波导和一种裸芯片测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921186667.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-25
授权号 :
CN210111018U
授权日 :
2020-02-21
发明人 :
汪佳娣刘贵亚凌玲
申请人 :
合肥应为电子科技有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2栋1102室
代理机构 :
安徽知问律师事务所
代理人 :
杜袁成
优先权 :
CN201921186667.X
主分类号 :
H01P3/02
IPC分类号 :
H01P3/02 H01L21/67 H01L21/66
法律状态
2020-02-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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