一种双脊波导法液晶介电测试装置
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摘要

本发明公开了一种双脊波导法液晶介电测试装置,包括波导腔体、矢量网路分析仪、同轴传输线、脊波导同轴转换器、耦合孔、双脊波导腔端板、聚四氟乙烯管和连接孔,所述波导腔体上表面固定有脊波导同轴转换器,所述脊波导同轴转换器上连接有同轴传输线,所述双脊波导腔端板之间形成耦合孔,所述聚四氟乙烯管穿插在波导腔体竖向中轴线处内部,所述连接孔设置在波导腔体上。该双脊波导法液晶介电测试装置用脊波导测量液晶材料在加磁场作用下介电参数的变化,具有测试液晶的样品的体积小可节约成本,可靠性高,频带较宽,可调谐范围大,该测试设备不仅方便更换液晶样品,实现宽带快速测试,而且提供了对低损耗液晶材料的准确测量。

基本信息
专利标题 :
一种双脊波导法液晶介电测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110261684A
申请号 :
CN201910377410.0
公开(公告)日 :
2019-09-20
申请日 :
2019-05-07
授权号 :
CN110261684B
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
赵青赵怿哲陈宗汪相如
申请人 :
电子科技大学
申请人地址 :
四川省成都市建设北路二段四号
代理机构 :
成都环泰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
赵红欣
优先权 :
CN201910377410.0
主分类号 :
G01R27/26
IPC分类号 :
G01R27/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量;品质因数的测量,例如通过应用谐振法;损失因数的测量;介电常数的测量
法律状态
2022-04-05 :
授权
2019-10-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 27/26
申请日 : 20190507
2019-09-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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