一种内存条VREF电路的短路测试仪
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摘要
本实用新型公开了一种内存条VREF电路的短路测试仪，包括测试底座、固设在测试底座内部的电源模块、固设在测试底座顶部的内存条插座、用于测量内存条阻值的电阻测量装置以及用于对内存条上芯片的电容进行放电的电容放电器。电源模块与所述电阻测量装置电性连接，内存条插座的内部设有用于与待测内存条VREF电路相连接的输入口和输出口，电阻测量装置的两端分别通过导线与输入口及输出口连接。本实用新型提供一种内存条VREF电路的短路测试仪，将电容放电器依次靠近内存条上每个芯片电容的位置，然后观察电阻测量装置的阻值是否有发生变化，以此来判断内存条VREF电路在该芯片内部的部分是否出现短路异常，操作方便，检测速度快。
基本信息
专利标题 ：
一种内存条VREF电路的短路测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921192449.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-26
授权号 ：
CN210572606U
授权日 ：
2020-05-19
发明人 ：
孔凡平杨京杨松青
申请人 ：
厦门市原子通电子科技有限公司
申请人地址 ：
福建省厦门市翔安区内岗中路1号之2
代理机构 ：
厦门律嘉知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张辉
优先权 ：
CN201921192449.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/52
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-05-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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