一种等离子体反射率测试设备
授权
摘要

本实用新型公开了一种等离子体反射率测试设备,通过设置气缸,能够带动连接杆升降,进而能够使连接杆带动安装箱及其内部的反射率测试设备随之上下移动,进而能够方便将反射率测试设备调节到合适的位置,方便后续测试工作的进行;通过在安装箱内设置减震机构,当将反射率测试设备放入安装腔内时,能够通过减震机构起到减震的作用,进而能够减少安装箱与反射率测试设备之间的碰撞,从而能够减少对反射率测试设备的损坏;然后再在安装箱的顶端设置散热腔,并在散热腔内设置散热翅片和散热风扇,能够对反射率测试设备起到散热的效果;再在安装腔内设置强力吸盘,能够通过强力吸盘将反射率测试设备的一侧吸附住,增加安装的稳定性。

基本信息
专利标题 :
一种等离子体反射率测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921207699.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-29
授权号 :
CN210347432U
授权日 :
2020-04-17
发明人 :
张文远徐浩军刘雄魏小龙韩欣珉宋志杰
申请人 :
中国人民解放军空军工程大学
申请人地址 :
陕西省西安市灞桥区霸陵路1号
代理机构 :
西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
崔瑞迎
优先权 :
CN201921207699.3
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01  G01N21/552  G01N21/73  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-04-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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