一种RFID标签测试系统
授权
摘要
本实用新型提供一种RFID标签测试系统，包括测试机、探针卡、温度传感器、射频阅读器、加热设备和降温设备，所述测试机分别连接探针卡、温度传感器和射频阅读器，所述探针卡用于放置被测标签的射频标签芯片，所述温度传感器、加热设备和降温设备都设在靠近探针卡的边缘处。在完成了射频标签芯片的测试和温度影响数据写入后，被测标签在实际运用时，其射频标签芯片向射频天线输入射频电流以使得射频天线能向外界发出射频信号，在射频天线的发射功率在受到温度影响而改变后，射频标签芯片能根据其存储的温度影响数据来调节输入到射频天线的射频电流，从而使得射频天线的发射功率受到温度影响的部分得到补偿，即射频天线的发射功率保持不变。
基本信息
专利标题 ：
一种RFID标签测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921231838.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-31
授权号 ：
CN210835145U
授权日 ：
2020-06-23
发明人 ：
文亚东熊凯辜诗涛袁俊张亦锋
申请人 ：
上海利扬创芯片测试有限公司
申请人地址 ：
上海市嘉定区永盛路2229号3幢1层、2层
代理机构 ：
东莞市华南专利商标事务所有限公司
代理人 ：
刘克宽
优先权 ：
CN201921231838.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-06-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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