RFID标签测试用支架和RFID标签测试系统
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摘要
RFID标签测试用支架和RFID标签测试系统。RFID标签测试用支架包括支架杆体，所述支架杆体包括固定杆段；所述固定杆段具有夹合结构、锁紧结构和标签插接转动结构；所述夹合结构能够夹紧所述标签插接转动结构，从而能够固定所述标签插接转动结构的角度；所述标签插接转动结构插接标签载体；所述标签载体用于承载RFID标签；还包括设置在所述支架杆体的量角器和角度指示结构；所述角度指示结构连接在所述固定杆段侧面；所述量角器被所述支架杆体贯穿并以水平方式垂直于所述支架杆体。RFID标签测试用支架能够调节高度和角度。
基本信息
专利标题 ：
RFID标签测试用支架和RFID标签测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021137784.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-18
授权号 ：
CN212569779U
授权日 ：
2021-02-19
发明人 ：
顾淑玲钱国华
申请人 ：
智汇芯联（厦门）微电子有限公司
申请人地址 ：
福建省厦门市软件园二期观日路34号201室J单元
代理机构 ：
厦门仕诚联合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
吴圳添
优先权 ：
CN202021137784.X
主分类号 ：
G06K7/00
IPC分类号 ：
G06K7/00 H01Q1/12 H01Q1/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06K
数据识别；数据表示；记录载体；记录载体的处理
G06K7/00
读出记录载体的方法或装置
法律状态
2021-02-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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