一种平整度测量结构
授权
摘要
本实用新型公开了一种平整度测量结构，涉及市政工程检测技术领域，一种平整度测量结构，包括测量直尺和楔形塞尺，楔形塞尺较厚的一端固定有立柱，测量直尺上设置有用于限制楔形塞尺与测量直尺相对位置的限位结构。针对现有技术存在平整度测量不方便的问题，本实用新型在楔形塞尺较厚的一端固定有立柱，方便工作人员移动楔形塞尺，限位结构用于限制楔形塞尺的相对于测量直尺的位置，保证楔形塞尺与测量直尺保持垂直关系，增加测量的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种平整度测量结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921283241.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-08
授权号 ：
CN210198293U
授权日 ：
2020-03-27
发明人 ：
聂玮琦陈涛章玉清
申请人 ：
上海市市政工程管理咨询有限公司
申请人地址 ：
上海市崇明区长兴镇前卫支路165号16幢304室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921283241.6
主分类号 ：
G01B5/28
IPC分类号 ：
G01B5/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/255
••用于检测轮子的准直
G01B5/28
用于计量表面的粗糙度或不规则性
法律状态
2020-03-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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