一种方便使用的硅块原料外观检验台
授权
摘要
本实用新型公开了一种方便使用的硅块原料外观检验台，包括工作平台，所述工作平台的上端面开设有凹槽一，所述凹槽一的内部活动连接有测量尺，所述工作平台上端面的一侧固定连接有固定板，所述固定板的内侧开设有滑槽一，所述滑槽一的内部活动连接有滑块一，所述滑块一的一端固定连接有连接杆，所述连接杆的一端固定连接有旋转轴一，所述旋转轴一的一端固定连接有放大镜，所述工作平台的上端面开设有滑槽二，所述滑槽二的内部活动连接有滑块二。该方便使用的硅块原料外观检验台，在工作台面上设置夹具，且夹具可以通过电机和旋转轴的运动进行90°旋转，可以在检测完硅块的一个面之后，不搬动硅块就可以将硅块的另一个面进行翻转检测。
基本信息
专利标题 ：
一种方便使用的硅块原料外观检验台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921307851.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-13
授权号 ：
CN210376112U
授权日 ：
2020-04-21
发明人 ：
郑松余江湖刘君
申请人 ：
安徽晶天新能源科技有限责任公司
申请人地址 ：
安徽省马鞍山市承接产业转移示范园区北京大道嘉善科技园
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921307851.5
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-04-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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