一种硅整流元件均压测试仪
授权
摘要
本实用新型实施例公开了一种硅整流元件均压测试仪包括：人机交互单元、模拟采集控制电路测控单元、智能测控单元以及电压调节测控单元；人机交互单元、模拟采集控制电路测控单元以及电压调节测控单元均与智能测控单元连接；电压调节测控单元和模拟采集控制电路测控单元均与硅整流元件连接；其中，电压调节测控单元包括调压器和升压变压器，升压变压器与调压器和硅整流元件均连接。本实用新型提出的均压测试仪，可在硅整流元件工作的高压环境下测量电压，避免了人工测量下造成的误差以及人身触电事故的发生，提高测量准确度。
基本信息
专利标题 ：
一种硅整流元件均压测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921322436.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-14
授权号 ：
CN210604773U
授权日 ：
2020-05-22
发明人 ：
黎莎鲍丰
申请人 ：
北京铁道工程机电技术研究所股份有限公司
申请人地址 ：
北京市丰台区南四环西路188号一区5号楼（园区）
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
孟金喆
优先权 ：
CN201921322436.7
主分类号 ：
G01R19/25
IPC分类号 ：
G01R19/25
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R19/00
用于测量电流或电压或者用于指示其存在或符号的装置
G01R19/25
采用数字测量技术
法律状态
2020-05-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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