一种软X射线显微成像探测器
授权
摘要
本实用新型公开了一种软X射线显微成像探测器，包括腔体、荧光转换屏以及光电转换器件，腔体包括第一开口和第二开口，腔体内部设置有将自第一开口处入射的光反射至第二开口处的反射器件，光自第一开口向反射器件传播的方向与自反射器件向第二开口传播的方向之间具有第一夹角；荧光转换屏设置于第一开口处；光电转换器件设置于第二开口处，光电转换器件、荧光转换屏与腔体形成密闭空间。本实用新型避免了软X射线直接辐射到光电转换器件上，提高了探测效果，延长了光电转换器件的使用寿命，结构简单，易于实现。
基本信息
专利标题 ：
一种软X射线显微成像探测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921358366.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-21
授权号 ：
CN211086146U
授权日 ：
2020-07-24
发明人 ：
郑睿肖鹏谢庆国钟胜王卫东唐江褚倩白翔
申请人 ：
苏州瑞派宁科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市高新区锦峰路8号17栋
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921358366.0
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2020-07-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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