一种地质勘察用岩层取样装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种地质勘察用岩层取样装置,包括矩形基座,所述矩形基座上设有升降结构以及取样结构,所述取样结构安置于升降结构上;所述升降结构包括:一对支撑架、一对丝杠架、链条、承载板以及滚轮;所述一对支撑架安置于矩形基座上壁面左右两端,所述一对支撑架侧壁面开设有位置相对应的第一条形凹槽,本实用新型涉及地质勘察技术领域。地质勘察中,经常遇到岩层,由于岩层较大较厚,并且岩石成具有较多元素,并且具有不同的岩层,并且岩层较大,无法整体取出,所以需要进行取样,传统的地质勘察取样时,通常采用人工手动操作,并且在取样时,需要人工支撑,取样费时费力,鉴于此,针对上述问题进行研究,设计本装置。
基本信息
专利标题 :
一种地质勘察用岩层取样装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921367029.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-21
授权号 :
CN210533753U
授权日 :
2020-05-15
发明人 :
傅国耀
申请人 :
舟山市规划建筑设计研究院
申请人地址 :
浙江省舟山市定海区新河北路2号
代理机构 :
上海精晟知识产权代理有限公司
代理人 :
安曼
优先权 :
CN201921367029.8
主分类号 :
G01N1/08
IPC分类号 :
G01N1/08
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样;制备测试用的样品
G01N1/02
取样装置
G01N1/04
固体的,如采用切割
G01N1/08
用提取工具,如岩心钻头
法律状态
2020-05-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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