一种提高测量微弱信号分辨率的电路系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种提高测量微弱信号分辨率的电路系统，将线性变化的锯齿波函数信号，与被测量微弱信号叠加成一个新的成形信号，然后将此成形信号送到模数转换器U1中，在模数转换器U1采样所述成形信号时，采用过采样处理，然后，将经过过采样处理后的信号数据送到主控制器MCU进行处理，将信号解调成原始的被测量微弱信号。本实用新型采用普通的模数转换器或微处理器自带模数转换器对微弱信号进行直接采样或在采样前端进行简单的放大滤波处理后再进行信号采样，而不需要在采样前端放置复杂的模拟放大滤波信号处理电路，就能实现对微弱信号的高精度测量，成本低。
基本信息
专利标题 ：
一种提高测量微弱信号分辨率的电路系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921403047.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-27
授权号 ：
CN210839531U
授权日 ：
2020-06-23
发明人 ：
刘佰祥刘跃武朱辉
申请人 ：
深圳市迈铭科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区福海街道桥头社区富桥一区吉安泰工业园厂房3栋301
代理机构 ：
武汉大楚知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
徐员兰
优先权 ：
CN201921403047.7
主分类号 ：
H03M1/12
IPC分类号 ：
H03M1/12 A61B5/0402
法律状态
2020-06-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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