一种能提高精度和分辨率的双CCD测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种能提高精度和分辨率的双CCD测量装置，包括底座、螺丝和卡槽，所述底座的上方固定有调节螺纹杆，所述支撑螺纹块的上方设置有支撑台，所述螺丝位于水平仪的上方，所述元件放置台的左右两侧安装有CCD测量装置本体，所述卡槽位于卡块的外部，所述调节板的上方固定有调节螺纹块，所述调节螺纹块的内部设置有固定螺纹杆，所述调节板远离元件放置台中轴线的一侧固定有导杆。该能提高精度和分辨率的双CCD测量装置，与现有的普通双CCD测量装置相比，该设备具有水平调节功能，能够使设备处于一种水平状态进行测量，提高设备的精度，同时该设备便于CCD测量镜头的更换，从而使设备能够根据需求使用不同分辨率的CCD测量镜头。
基本信息
专利标题 ：
一种能提高精度和分辨率的双CCD测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020694661.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-30
授权号 ：
CN211651646U
授权日 ：
2020-10-09
发明人 ：
杨威杨建
申请人 ：
深圳市爱而特精密五金有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区沙井街道沙三路1号6栋2B
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020694661.X
主分类号 ：
G01D11/00
IPC分类号 ：
G01D11/00 G01D11/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D11/00
非专用于特定变量的测量装置的组件
法律状态
2020-10-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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