一种提高CCD分辨率的装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种提高CCD分辨率的装置，包括CCD探测器，所述CCD探测器包括一芯片、与该芯片配合的窗口以及具有冷却传输部件和冷却部件的功能性部件，所述芯片与所述窗口成一倾斜角度。本实用新型能够实现CCD探测器对入射X射线实际空间分辨率的成倍提升，并显著提高了单一方向的X射线探测能力。另外，本实用新型能够最优匹配二次光聚焦的焦平面，避免芯片远离光斑中心的部分失焦，进而实现对空间分辨率动态的最优调整。同时，本实用新型结构简单、兼容性好、成本低、操作便捷。
基本信息
专利标题 ：
一种提高CCD分辨率的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022104464.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-23
授权号 ：
CN213209964U
授权日 ：
2021-05-14
发明人 ：
朱大明黄耀波王勇
申请人 ：
中国科学院上海高等研究院
申请人地址 ：
上海市浦东新区张江高科技园区海科路99号
代理机构 ：
上海智信专利代理有限公司
代理人 ：
邓琪
优先权 ：
CN202022104464.0
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2021-05-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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