一种绝缘子参数测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种绝缘子参数测量装置，包括主框架，主框架由上至下依次包括框架顶层、第一测量层、第二测量层和框架底层，第一测量层一侧安装有输送组件，输送组件中部对应的框架顶层上安装有轴向检测组件，所述框架顶层近输送组件端通过竖直杆设置有径向检测组件，输送组件远径向检测组件端下部分别设置有旋转组件和轮廓检测组件，旋转组件安装在框架底层，轮廓检测组件安装在第二测量层，旋转组件对应的框架顶层上安装有自由端向下的张紧组件，第一测量层的远输送组件端设置有拔销拉力测量组件。实现了绝缘子参数的精确、高效的测量，并且能够一次性检测多个参数，减轻了测量人员的劳动强度。
基本信息
专利标题 ：
一种绝缘子参数测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921475252.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-05
授权号 ：
CN210268733U
授权日 ：
2020-04-07
发明人 ：
李骏赵武郭鑫张凯陈领于淼
申请人 ：
四川大学
申请人地址 ：
四川省成都市一环路南一段24号
代理机构 ：
北京中济纬天专利代理有限公司
代理人 ：
郭萍
优先权 ：
CN201921475252.4
主分类号 ：
G01D21/02
IPC分类号 ：
G01D21/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D21/00
未列入其他类目的测量或测试
G01D21/02
用不包括在其他单个小类中的装置来测量两个或更多个变量
法律状态
2020-04-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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