新型光器件双工位检测台
授权
摘要
本实用新型公开了新型光器件双工位检测台，包括测试模块、用于供给测试模块电源的电源模块和用于安装测试模块的辅助治具；所述辅助治具包括上壳、下壳和侧壳；所述测试模块包括硬件接收测试板和发射测试板，测试模块还包括接头、光分路器和光衰板，测试模块中的硬件接收测试板、发射测试板、接头、光分路器和光衰板匀相互电路连接；所述电源模块由三合一的电源座和电源开关组成，电源座通过螺丝安装在底壳上，侧壳一端设有用于安装电源开关的方孔，并且将电源开关固定在方孔上；本实用新型将发射测试板与硬件接收测试板及光衰板集成组装在同一个辅助治具台上，只要一人就可以测试，桌面占用空间体积小；无需两次上下料，效率大大提升。
基本信息
专利标题 ：
新型光器件双工位检测台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921498425.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-10
授权号 ：
CN210075239U
授权日 ：
2020-02-14
发明人 ：
余学刚王珑锟孙成成
申请人 ：
深圳市兆捷科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道黄田杨贝工业区一期第5栋5楼B区
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921498425.4
主分类号 ：
H04B10/079
IPC分类号 ：
H04B10/079
法律状态
2020-02-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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