一种激光散射法测颗粒物零点自动校准装置
授权
摘要
本实用新型公开一种激光散射法测颗粒物零点自动校准装置，包括：颗粒物切割器、与颗粒物切割器连接的第一三通电磁阀、与第一三通电磁阀连接的第一过滤器、与第一三通电磁阀连接的传感器、与传感器连接的第二过滤器、与第二过滤器连接的气泵、与气泵连接的第二三通电磁阀、以及控制器，控制器与第一三通电磁阀、传感器、气泵以及第二三通电磁阀电性连接，第一过滤器过滤掉被测颗粒物。正常情况下，气体通过颗粒物切割器进入至第一三通电磁阀中，经由除湿装置除去气体中的水分，然后经过传感器检测颗粒物的参数，此为正常的检测流程，通过设置除湿装置，使得检测得到的参数更精确。
基本信息
专利标题 ：
一种激光散射法测颗粒物零点自动校准装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921529442.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-12
授权号 ：
CN210665422U
授权日 ：
2020-06-02
发明人 ：
张强李华王立升王彦辉
申请人 ：
深圳市无眼界科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区沙井街道后亭茅州山工业园工业大厦全至科技创新园科创大厦17层G
代理机构 ：
深圳市中科创为专利代理有限公司
代理人 ：
谭雪婷
优先权 ：
CN201921529442.X
主分类号 ：
G01N15/06
IPC分类号 ：
G01N15/06 G01N1/34
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/06
测试悬浮颗粒的浓度
法律状态
2020-06-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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