一种基于β射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于β射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置，包括光学散射模块、β射线检测模块以及分析模块；所述光学散射模块具有与待测气体的气路相连通的进气口、与该进气口相连通的散射腔、与该散射腔相连通的出气口；所述β射线检测模块的进气口与所述光学散射模块的出气口相连接；所述分析模块分别与所述光学散射模块以及所述β射线检测模块连接；本实用新型的测量装置，能够准确的测得待测气体中颗粒物的粒子质量浓度。
基本信息
专利标题 ：
一种基于β射线法和光散射原理的颗粒物实时测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921978501.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-15
授权号 ：
CN212321373U
授权日 ：
2021-01-08
发明人 ：
应刚鲁晨阳栾旭东方华炳张涛张苏伟
申请人 ：
江苏天瑞仪器股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山市玉山镇中华园西路1888号天瑞产业园
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921978501.1
主分类号 ：
G01N15/06
IPC分类号 ：
G01N15/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/06
测试悬浮颗粒的浓度
法律状态
2021-01-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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