深度检测系统及其支架和电子装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种深度检测系统,包括发射模组,用于发射具有参考图案的检测光束;接收模组,用于采集被外部对象反射的具有检测图案的检测光束;所述发射模组和/或接收模组的边缘所在直线相对所述发射模组和接收模组的基线所在直线具有一定角度;或者所述发射模组边缘所在直线和所述接收模组边缘所在直线具有一定角度。本实用新型还公开了一种用于所述深度检测系统的支架和包括所述深度检测系统的电子装置。本实用新型具有较大的深度信息检测范围。

基本信息
专利标题 :
深度检测系统及其支架和电子装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921543845.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-17
授权号 :
CN210570528U
授权日 :
2020-05-19
发明人 :
田浦延王小明
申请人 :
柳州阜民科技有限公司
申请人地址 :
广西壮族自治区柳州市新柳大道29号2栋2层105号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201921543845.X
主分类号 :
G01B11/22
IPC分类号 :
G01B11/22  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/22
用于计量深度
法律状态
2020-05-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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