深度的检测系统和电子设备
授权
摘要
本申请提供了一种深度的检测系统和电子设备,该系统包括:光源装置,用于依次发射多种调制光,任意两种调制光对应的发射时间段具有间隔,多种调制光的频率均不同,多种调制光中,频率较大的调制光的振幅小于频率较小的调制光的振幅;接收装置,用于接收光源装置发出的调制光经过被测对象反射后的反射光;处理装置,与接收装置电连接,处理装置用于根据多种调制光以及对应的反射光的相位差计算被测对象的深度。该系统提高了深度检测的准确度,解决了利用TOF构建计算深度的准确性较差的问题。
基本信息
专利标题 :
深度的检测系统和电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920836579.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-04
授权号 :
CN210051300U
授权日 :
2020-02-11
发明人 :
杨萌李建军戴付建赵烈烽
申请人 :
浙江舜宇光学有限公司
申请人地址 :
浙江省宁波市余姚市舜宇路66-68号
代理机构 :
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 :
韩建伟
优先权 :
CN201920836579.3
主分类号 :
G01B11/22
IPC分类号 :
G01B11/22 G01S17/08 H04B10/548
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/22
用于计量深度
法律状态
2020-02-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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