一种无损检测曝光支架
授权
摘要
本实用新型公开的属于无损检测技术领域,具体为一种无损检测曝光支架,包括第一支撑环和第二支撑环,所述第一支撑环与第二支撑环同轴心设置,所述第一支撑环前侧面的左右两侧均螺接有第一L型支脚,所述第二支撑环后侧面的左右两侧均螺接有第二L型支脚,所述第一支撑环和第二支撑环外侧壁均开设有调节槽,两个所述调节槽内腔均插接有两个滑动块,两个所述滑动块的外侧壁均焊接有连接板,两个所述连接板朝向外侧的一面均焊接有连接杆,两个所述连接杆之间焊接有第一半环状固定板,所述第一半环状固定板的开口处螺接有第二半环状固定板,该新型方案拆卸方便,便于携带,节约空间的同时提高了检测效率。
基本信息
专利标题 :
一种无损检测曝光支架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921575710.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-22
授权号 :
CN211602991U
授权日 :
2020-09-29
发明人 :
叶海燕
申请人 :
重庆波特无损检测技术有限公司
申请人地址 :
重庆市大渡口区春晖路街道翠柏路101号4幢5-5
代理机构 :
成都行之专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
梁田
优先权 :
CN201921575710.1
主分类号 :
G01N23/18
IPC分类号 :
G01N23/18
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/06
并测量吸收
G01N23/18
测试缺陷或杂质存在
法律状态
2020-09-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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